6张放射性思维导图汇总，内容涵盖慢中子动能小于1keV的中子、快中子动能在0.5-10MeV的中子等2个方面，每张思维导图都非常清晰，每张图片均精选版。
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思维导图知识点说明：
- 核辐射探测器利用探测器内的物质与入射射线的相互作用而产生某种信息（如电、光脉冲或材料结构的变化）从而实现对入射射线加以捕获的装置:
- 绝对测量指不需借助中间手段而直接测得放射性活度的方法:
- 相对测量是指需要中间手段（即以常用测量仪器说测的脉冲计数多少来反映放射活度大小的方法）直接测得放射性活度的方法:
- 核衰变率单位时间内放射性核素的衰变数（dps、dpm）:
- 计数率指核射线探测仪器在单位时间内测量得到的脉冲信号数用每秒计数(cps)或每分计数(cpm)表示:
- 仪器的探测效率仪器单位时间内所测量的脉冲数与实际衰变数之比衡量仪器质量的重要指标E%=[（计数率(N)）/[衰变率(A)]×100%:
- 本底在没有放射性样品的情况下仪器所测的计数称为本底:
- 影响放射性测量的因素包括几何位置、仪器工作条件的影响、仪器分辨率的影响、样品的影响等:
- 气体电离探测器如果核辐射被电离室中的气体吸收该气体将发生电离电离探测器即是通过收集射线在气体中产生的电离电荷进行测量的:
- 根据其所处的工作状态通常可将气体电离探测器分为三类电离室正比计数器G-M计数器它们的工作介质均为气体结构类似区别主要在于工作电压电离室正比计数器 G-M计数器:
- 脉冲电离室记录单个入射粒子的电离效应处于这种工作状态的电离室称为脉冲电离室:
- 累计电离室记录大量入射粒子平均电离效应处于这种工作状态的电离室称为累计电离室:
- G-M计数器中电流强度不再与原电离的电荷数有关原电离电荷对放电只起“点火”的作用因此只能探测射线数目不能探测射线能量:
- 金硅面垒半导体探测器属于PN结型半导体探测器主要用于α粒子测量也可用于β射线测量对γ射线不灵敏:
- 闪烁探测器是利用射线照射在某些闪烁体上而使它发生闪光的原理进行测量的仪器它具有一个闪烁体当射线进入其中时产生闪光然后用光电倍增管将闪光讯号放大、记录下来:
- 闪烁探测器根据闪烁体性质不同分为固体闪烁探测器和液体闪烁探测器其中固体闪烁探测器的闪烁体为固态晶体常用的包括NaI（Tl）、CsI（Tl）、ZnS（Ag）和有机晶体等主要用于探测X射线和γ射线液体闪烁探测器的闪烁体为液体一般为+闪烁剂主要用于探测α射线和低能β射线（如3H、14C ）:
- 闪烁探测器的结构包括探头和后续电子线路其中探头又包含闪烁体、光导和光电倍增管:
- 化学淬灭由于闪烁液中存在的杂质能吸收溶剂的激发能与闪烁剂相竞争而阻碍向闪烁剂分子的转移从而导致光子产额减少计数效率降低它是发生在溶剂分子激发能转移到闪烁剂分子和放出光子的过程中产生的淬灭作用:
- 光子淬灭在非均相测量(如颗粒悬浮法或固体支持法测量)的情况下试样中的β射线由于试样颗粒或固体支持物(如滤纸、滤膜和凝胶等)的吸收而降低了产生光子的能力从而导致计数效率降低在均相测量的情况下不存在这种淬灭:
- 颜色淬灭是由于闪烁液中存在有色化合物或某一化学试剂吸收一部分荧光而引起的计数效率的降低:
- 浓度淬灭是指闪烁液中闪烁剂达到一定浓度后进一步提高闪烁剂浓度时计数效率不但不增加反而逐渐减少 另一方面当闪烁液中加入试样或增溶剂后闪烁剂的浓度低于最佳浓度时使计数效率下降前者称浓度淬灭后者又称稀释淬灭:
- 淬灭校正是采用适当的方法求得每一样品的测量效率从而求出样品的放射性活度:
- 中子 一种不带电的粒子是组成原子核的粒子之一电荷为是中性粒子磁矩为质量为939.5653MeV/c半衰期为10.6min:
- 慢中子动能小于1keV的中子:
- 快中子动能在0.5-10MeV的中子:
- 中子源能够产生中子并提供使用的装置常用的中子源包括放射性同位素中子源 中子源和反应堆中子源:
- 放射性同位素中子源利用放射性核素衰变时放出一定能量的粒子去轰击靶物质发生核反应而放出中子的装置根据射线的种类不同分为α放射性中子源（αn）、光中子源（γn）和自发裂变中子源（fn）:
- 中子不带电因此它与核外电子之间没有库伦相互作用因它通过物质时不与核外电子发生相互作用不能引起直接电离:
- 中子与物质的相互作用包括弹性散射、非弹性散射、辐射俘获、核裂变、核反应:
- 中子探测方法包括核反应法、核反冲法、核裂变法等:
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